​在過去的兩(liang) 年中，隨著光纖成本的降低以及1000 Base和10g以太網的廣泛應用和升級，光纖通信已成為(wei) 局域網和無線局域網布線的重要組成部分。那麽(me) ，鏈路故障的原因是什麽(me) ？

1光纜過長

由於(yu) 光纖本身的缺陷和摻雜組分的異質性，使傳(chuan) 輸的光信號被散射和吸收，由於(yu) 材料和製造工藝的改進，現在的光纖已減少了20％。從(cong) 1970年的每公裏DB到每公裏1 DB，與(yu) 此同時，標準化組織（例如ISO 11801，ANSI / TIA / eia568b）明確規定了減少光纖鏈路的單位距離。

盡管如此，光纖本身的衰減仍然存在，因此，當光纖鏈路過長時，整個(ge) 鏈路的整體(ti) 衰減將超過網絡設計的閾值，從(cong) 而導致實際上，由於(yu) 光鏈路中存在許多線圈，因此光鏈路的長度通常大於(yu) 實際通信節點的物理距離，這可能導致通信長度過長。因此，在布線設計中必須明確定義(yi) 線路的長度，以避免光纜過長，同時，一旦布線，完成後，通過儀(yi) 器測量光鏈路的實際長度，如圖1所示（flukenetworks的光纖可測量光纖鏈路的每個(ge) 鏈路的長度）鏈接（如果需要），以確保構造和設計的一致性。

2彎曲過度

光纖光纜的彎曲和壓縮損耗主要是由於(yu) 光不滿足內(nei) 部反射條件。

光纖有些彎曲，盡管可以彎曲，但是當光纖彎曲到一定程度時，會(hui) 改變光的傳(chuan) 輸路徑，從(cong) 而使一部分光逸出。當光線通過彎曲部分時，它越靠近光纖外部，傳(chuan) 播越快。它被傳(chuan) 輸到給定的位置，它以超過光速的速度傳(chuan) 播，並且傳(chuan) 導模式變成了輻射模式而導致損耗。當曲率半徑過去時，所導致的曲率損耗變得明顯，因此通常建議動態曲率半徑不小於(yu) 光纜外徑的20倍，靜態曲率半徑不小於(yu) 光纜外徑的15倍光纜。

在實際應用中，光纖中的數據是線性傳(chuan) 輸的，如果將光纖纏繞成環形，則信號會(hui) 完全丟(diu) 失，因此在布線時應特別注意保留一定角度。足夠的電路，例如沿旋轉角度，走廊，辦公室的輕微彎曲過渡，可能會(hui) 導致傳(chuan) 輸故障。

在另一個(ge) 實施例中，屈曲對光纖中的高階模塊進行濾波，這提高了光衰減測量的穩定性。圖2示出了光模量衰減的原理。盤中盤片對光纖中光信號的輻射和高層模塊的調製過程。

3光纜受壓或斷裂

光纖受到不規則應力的影響，例如當光纖受到壓力或塗層光纖的溫度變化時，光纖軸會(hui) 輕微彎曲甚至斷裂，因此傳(chuan) 導模式為(wei) 轉換為(wei) 輻射模式，導致光能損失，特別是當光纜內(nei) 部出現斷裂時，如果突然發生變化而使光纖斷裂，則光纖信號的質量會(hui) 大大降低然後，OTDR檢測器可以檢測到光纖的內(nei) 部彎曲或斷裂點，應注意光柵的布線距離。本地短且OTDR測試儀(yi) 器的精度較高，通常建議使用分辨率小於(yu) 1米的測試儀(yi) 器。萬(wan) 一意外死亡。

4光纜熔接不良

在光纖布線中，通常通過融合技術將兩(liang) 個(ge) 光纖段融合為(wei) 一個(ge) 段，由於(yu) 玻璃光纖的中央層已融化，因此有必要去除皮膚。現場操作期間，玻璃光纖汙染可能是由於(yu) 操作不良和不利的施工環境而導致的，從(cong) 而導致雜質，變質。如圖3所示，在焊接過程中密度過高甚至氣泡，最終降低了整個(ge) 鏈上的通信質量。

因此，無論是在熱熔過程還是冷熔過程中，熔化的光纖和操作過程都受到嚴(yan) 格的要求和規定，以確保該點的衰減。熔點為(wei) TIA和ISO規定的0.3 DB，例如，在焊接前必須清潔機電焊接電極，焊接前必須清潔玻璃光纖以及現場環境的溫度濕度。光纖融合會(hui) 導致衰減，Optifibertm可以準確確定每個(ge) 熔點的位置和損失。

5核心直徑不匹配

主動連接也用於(yu) 光纜的布線，例如法蘭(lan) 的連接。此過程是靈活，簡單，用戶友好，可靠且多功能的。通常，主動連接損耗約為(wei) 1db，但如果光纖的端麵不幹淨，連接不窄並且纖芯的直徑不匹配（如圖4所示），則連接損耗會(hui) 大大增加。內(nei) 核直徑未對準不僅(jin) 意味著單模和多模光纖的混合，而且還意味著62.5和50線多模光纖的混合。

不管是圖案的混合還是線徑的混合，可以想到的是，從(cong) 小直徑到大直徑的入射光所產(chan) 生的光路和衰減與(yu) 因此，同一根光纖在不同方向上的衰減測試結果在此階段可能會(hui) 發生很大變化，有時甚至會(hui) 導致“衰減”。負數”（參見圖5）。可以使用兩(liang) 端功率測試或otr測試（如圖6所示）輕鬆檢測出內(nei) 核直徑偏差。

應該注意的是，除非由於(yu) 傳(chuan) 輸方式，主波長和衰減機製而使光纖的纖芯直徑不同，否則不能混合單模和多模光纖。 。

6填充物直徑不匹配

正如光纖芯線的直徑不匹配一樣，光纖連接過程中也會(hui) 出現光纖芯線的直徑，負載的不一致會(hui) 導致光纖連接失敗，從(cong) 而導致泄漏和泄漏。光信號的衰減。

7接頭汙染

光纖汙染和尾部受潮是造成光纜通訊故障的主要原因，martintechnicalresearch進行的一項獨立研究發現，80％的用戶和98％的供應商都存在由光纜末端引起的問題。 70％的用戶和88％的供應商由於(yu) 拋光缺陷而出現問題，該指標遠高於(yu) 其他導致光纖故障的原因。

特別是在本地網絡中存在大量的短跳，而大量的交換設備，光纖的插值，更換和交換非常頻繁。灰塵掉落，手指接觸，插頭脫落等，光纖連接器很容易受到汙染，所有這些汙染物都會(hui) 影響光的傳(chuan) 輸。通過光纖顯微鏡（例如，來自flukenetworks的Fiberinspector） ），可以清晰地看到數十個(ge) 納米光纖的末端表麵，從(cong) 而可以清潔彩色的末端表麵。

8接頭處拋光不良

除了共同汙染外，不良的街道拋光也是照明鏈的主要故障之一，在理想的光學連接中，光學密封件的表麵是平坦的且相互連接。最終，少量的光被反射，並且大部分光繼續通過端麵，但是，實際上，理想的光學接頭不存在，而是或多或少地呈凸形，凹形或傾(qing) 斜形。 （請參見圖7）。

用肉眼無法檢測到這些缺陷，但是當鍵中的光信號遇到這種接合點時，由不規則鍵合表麵產(chan) 生的光會(hui) 比理想狀態產(chan) 生更大的反射，並產(chan) 生OTDR曲線表明，拋光缺陷端子表麵的衰減衰減區域遠大於(yu) 正常端子表麵的衰減染色區域。 。

9接頭處接觸不良

接觸故障主要發生在光學電路的末端，例如配電箱，光學開關(guan) 等。由於(yu) 操作員的疏忽和問題，光纖連接器不夠嚴(yan) 格設備質量或連接器的老化會(hui) 導致反射損失和光信號泄漏的衰減;此外，安裝接頭的溢位會(hui) 導致光學密封件鬆動，從(cong) 而導致整個(ge) 光鏈路性能參數的漂移。

鑒於(yu) 上述情況，盡管光纖布線係統完全不受電磁幹擾的影響，但是光纖通信係統由於(yu) 其物理特性（例如，光纜長度過長）而存在許多問題。光纖，光纖的彎曲過渡，斷裂，壓縮或焊接以及纖芯直徑的不兼容；汙染模式的組合，負載的直徑不匹配，接頭，拋光接頭，接點接觸不良等。外部壓縮和過度彎曲會(hui) 導致光纖變形;在焊接過程中，雜質和氣泡會(hui) 改變光路的密度。線性直徑位移，端麵汙染，低拋光。

與(yu) 傳(chuan) 統的光纜通信中的電源故障相比，由於(yu) 這些物理特性而導致的光纖通信故障可能具有不同的原因，性能和影響，此外，光纖通信的準確性使檢測變得困難。肉眼觀察到光纖故障，例如，沒有因終端表麵汙染和閥杆內(nei) 部破裂而導致的故障，這需要我們(men) 特別注意光纖布線，並盡可能避免由於(yu) 人為(wei) 造成的不必要的光纖故障。與(yu) 此同時，光光纖護儀(yi) 器（例如flukenetworks簡化了光度計，光纖的時域，光纖末端顯微鏡等）用於(yu) 接收和維護在布線結束和日常維護期間，這不僅(jin) 可以快速發現光纖故障問題，而且可以在問題發生時快速定位和解決(jue) 問題，並確保網絡運行的安全性。

為(wei) 了確保光信號的遠程和低損耗傳(chuan) 輸，整個(ge) 光纖鏈路必須滿足非常嚴(yan) 格和敏感的物理條件，任何輕微的幾何失真或汙染都將導致相當大的信號衰減甚至通信中斷。 。